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便携式电阻率测试仪库号：M415894便携式电阻率测试仪库号：M415894
便携式电阻率测试仪是用来测量硅晶块、晶片的电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
本仪器按照半导体材料电阻率的标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探针头组成，需要时可加配测试架
技术指标
（1）测量范围：
可测量电阻率：0.01～199.9Ω·cm
可测方块电阻： 0.1～1999Ω/□
当被测材料电阻率≥200Ω·cm数字表显示0.00
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档
1mA量程：0.1～1mA 连续可调
10mA量程：1mA ～10
恒流精度：各档均大于±0.1%
（3）直流数字电压表
测量范围：0～199.9mv
灵敏度：100μV
准确度：0.2%（±2个字）
（4）供电电源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5）使用环境：
相对湿度≤80%
（6）重量、体积
重量：2.2Kg
体积：宽210×高100×深240（mm）
便携式电阻率测试仪是用来测量硅晶块、晶片的电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
本仪器按照半导体材料电阻率的标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探针头组成，需要时可加配测试架
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