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电子电路在线维修测试仪库号：M209638电子电路在线维修测试仪库号：M209638
40/40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库；
40/40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能
电路板测试存储功能，被测板可与之比较
通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试。
本功能亦可通过学习记录，比较分析来测试。
技术规格：
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系统下工作 双CPU工作，
功能测试40×2通道
VI曲线测试40×2通道
双测试夹VI曲线测试
网络提取 程控加电
EPROM/RAM在线读取
模拟器件 VI曲线测试
总线隔离信号
中文维修笔记
ICT系列检测仪检测
功能测试软件设上拉电阻——方便集电极开路门的测试
功能测试外供电源稳定——各种大、中、小型被测电路板皆可测试
功能测试具有三态识别能力——可测三态器件和IC负载能力下降故障
V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线
V/I测试六个扫描频率——保证V/I曲线测试稳定
V/I测试三种测试电压幅度——确保各类器件的V/I测试
集成电路在线功能测试
本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测74系列、
4000/45000逻辑IC、75系列接口IC及各种存储器等千余种集成电路。 1、快速测试：直接
显示测试结果，迅速确定可疑IC 2、分析测试：显示测试过程，测试激励。预期和实际响应，帮助分析故障原因 3、器件识别：查找无标记型号IC或同功能不同型号的IC。
集成电路在线状态测试
通过好坏板上相应IC的状态进行比较，找出有故障的IC。1、状态学习：在线学习无-故-障IC的引脚关系，互连状态和测试的激励与响应，并存入数据库中 2、状态比较：同故障
板上相应IC在线进行状态比较，根据两者差异判定IC好坏 3、状态显示：显示存入电脑库
中的各IC的状态资料。
集成电路离线功能测试
离线测试IC功能好坏，自-动识别未知型号的芯片
V/I曲线测试
通过好坏板上相应节点的动态阻抗圈的异同判定故障节点及故障IC 1、曲线学习：在线学习无-故-障板上各节点的动态阻抗曲线（V/I曲线），并存入数据库中 2、曲线比较：同故障板上相应节点的动态阻抗曲进行比较，根据差异大小及维修经验判定与此节点相关的IC
是否损坏 3、曲线显示：显示已存入电脑库中电路板上各个节点的动态阻抗图资料集成电路分析测试 网络提取测试
使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，；辅-助判断芯片的好坏。实现网络提取采
用了四种模式：
1、探棒对探捧（“棒"—“棒"模式）
2、探捧对测试夹（“棒"—“夹"模式）
3、测试夹对探捧（“夹"—“棒"模式）
4、测试夹对测试夹（“夹"—“夹"模式）
◆开发编译
TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明文件可以通过任何一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可
与相应子测试关联起来，可用热键查看相应说明文件。
1、TVED允许两种建立测试图形和方法
a）在TVED图形界面上直接建立
b）读入DCL语言的编译结果
2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加 以调整、修改。
3、4种测试方式：
a）执行一个测试
b）执行一个测试的一部分
c）循-环执行
d）单步运行
备注信息：
比旧款的4040/8080增加了以下功能：
网络提取测试
使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，；辅-助判断芯片的好坏。实现网络提取采
用了四种模式：
1、探棒对探捧（“棒"—“棒"模式）
2、探捧对测试夹（“棒"—“夹"模式）
3、测试夹对探捧（“夹"—“棒"模式）
4、测试夹对测试夹（“夹"—“夹"模式）
◆开发编译
TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明文件可以通过任何一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可与相应子测试关联起来，随-时用热键查看相应说明文件。
1、TVED允许两种建立测试图形和方法
a）在TVED图形界面上直接建立
b）读入DCL语言的编译结果
2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加 以调整、修改。
3、4种测试方式：
a）执行一个测试
b）执行一个测试的一部分
c）循-环执行
d）单步运行
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